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標(biāo)題: 芯片測(cè)試分析設(shè)備探針臺(tái) [打印本頁(yè)]

作者: 王qwe111 時(shí)間: 2022-9-8 13:36
標(biāo)題: 芯片測(cè)試分析設(shè)備探針臺(tái)
同學(xué)們實(shí)驗(yàn)室需要做芯片及LD/LED/PD測(cè)試、1微米以上電極、PAD測(cè)試/器件的IV/CV特性測(cè)試、高頻、射頻測(cè)試。需要了解相關(guān)設(shè)備或者樣品測(cè)試的都可以和我這邊* 知名探針臺(tái)設(shè)備*，已為浙江大學(xué)，夏門大學(xué)，北京理工大學(xué)，電子科技大學(xué)，中山大學(xué) 等大學(xué)實(shí)驗(yàn)室提供服務(wù)

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